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颗粒外观缺陷检测

颗粒外观缺陷检测

简要描述:塑料颗粒外观缺陷检测:实验室粒子挑选方法介绍,实验室粒子挑选方法有人工挑选和设备扫描法,以少量粒子试样的实验室分析数据预估实际生产情况。1、人工挑选,试验方法:取少量粒子试样,人工肉眼识别挑出异形异色粒子。但是,人眼观察必然存在误差。
2、设备扫描法
取少量粒子试样,通过粒子扫描设备,分析异色异形情况,并指导产线工艺,粒子扫描设备比人工挑选法准确高效,设备扫描方法必然取代传统的人眼挑选方法。

产品型号:

所属分类:颗粒外观缺陷检测

更新时间:2021-05-10

厂商性质:代理商

详情介绍

颗粒外观缺陷检测扫描设备介绍

扫描分析异色料子,包括黑粒、杂色粒等异色粒子

扫描分析异形粒子,包括大小粒、蛇皮粒等等异形粒子

扫描分析异色异形粒子,MP-C1和MP-V1功能结合体设备。

颗粒外观缺陷检测仪MP-C1/V1(彩色摄影机)是Mcroptik公司专为塑料聚合物工业开发的,也是为了满足原材料供应商对产品质量的要求提高MP-C1异色分析设定20微米到200微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子,当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料  MP-C1/V1这一款的粒子扫描系统,我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在20微米的标准开始,在测试50微米,然后100微米到最后200微米等10个规格(客户也可以自定义)。根据测量结果我们得到以下一组数据,并作为技术参数。

颗粒外观缺陷检测MP-V1异形分析设定30微米到1000微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子,当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。MP-V1这一款的粒子扫描系统,我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在30微米的标准开始,最后10000微米等10个规格(客户也可以自定义)根据测量结果我们得到以下一组数据,并作为技术参数。

颗粒外观缺陷检测技术指标、芯片彩色摄影机设定摄影机的像素:1936x1216像素,像素尺寸Pixel size:4.5um。
(1)20um起
USB 3CMOS
161f/s
18W
LED强光源(含测试台背景辅助光源)
:19寸长
500x600x500mm(长、宽、高)
/功率:约在230V/110V:380VA
45公斤



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